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在電鏡中觀察的晶體薄膜試樣,一般總是含有缺陷的,或多或少地存在著不完整性。由于晶體局部取向改變而引起的不完整性,除晶界、孿晶界、析出物與基體的相界面以外,還有由于晶體缺陷所引起的彈性位移,如點缺陷、面缺陷、線缺 （本文共 1093 字 , 1 張圖 ） [閱讀本文] >>
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在電鏡中觀察的晶體薄膜試樣,一般總是含有缺陷的,或多或少地存在著不完整性。由于晶體局部取向改變而引起的不完整性,除晶界、孿晶界、析出物與基體的相界面以外,還有由于晶體缺陷所引起的彈性位移,如點缺陷、面缺陷、線缺 （本文共 1093 字 , 1 張圖 ） [閱讀本文] >>
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