APP 位錯密度是研究材料形變過程和微觀結構對力學性能影響的重要參數。測定位錯密度的方法有二,一是X-射線方法,它是根據位錯密度對X-射線展寬的函數關系建立起來的方法。它雖不能在測量時同時看到位錯,但它的結果反映了一定的 （本文共 488 字 ） [閱讀本文] >>
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位錯密度是研究材料形變過程和微觀結構對力學性能影響的重要參數。測定位錯密度的方法有二,一是X-射線方法,它是根據位錯密度對X-射線展寬的函數關系建立起來的方法。它雖不能在測量時同時看到位錯,但它的結果反映了一定的 （本文共 488 字 ） [閱讀本文] >>
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