一種用于CIS列級ADC的片上抗PVT變化高精度自適應斜坡發生器

摘要： 傳統的片上全局斜坡發生器電路容易受工藝、電壓和溫度(PVT)的影響，導致斜坡信號易失真、線性度差；由于寄生電容的影響，片外校準的難度較大。提出了一種可以抗PVT變化，實現自適應校準斜率的斜坡發生器，采用逐次逼近算法細調和定步長搜索法微調相結合的方式，實現對斜坡的兩點校正。斜坡校準電路包括電阻型DAC、電流型DAC、邏輯控制、動態比較器等模塊。仿真結果表明，自適應斜坡發生器的平均... （共7頁）