D-PSO算法的單變量測試參數集成電路篩選方法

摘要： 針對集成電路尺寸縮小和復雜度提升導致的篩選成本提高問題，提出了一種針對單變量測試參數的集成電路篩選方法。具體先使用歸并排序算法將參數值與集成電路編號拼接成數組，確保后續篩選的準確性，并按照參數值對數據進行排序。然后，利用K-means算法對測試數據的異常值進行預處理，對測試數據進行初步優化。最后，通過結合導數與粒子群優化算法創新性地提出了D-PSO算法，D-PSO算法增強了拐點... （共9頁）