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狹縫陣列法產生準貝塞爾電子束用于HAADF-STEM成像研究

電子顯微學報頁數： 7 2024-12-15

摘要：貝塞爾電子束具有的自愈性和無衍射性使其在電子顯微成像和電子斷層掃描等領域中具有獨特優勢。本文制備了狹縫陣列光闌并安裝在透射電子顯微鏡中用于產生具有自愈性和無衍射性的準貝塞爾電子束(Bessel beams, BBs)。與單狹縫法相比，狹縫陣列光闌(slit arrays aperture, SAA)法提高了BBs的中心束強度并降低衍射旁瓣影響。與普通會聚束相比，BBs被用于掃描... （共7頁）

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