Zernike多項式曲面表征

摘要： Zernike多項式因其正交性和旋轉不變性，被廣泛應用于光學表面的表征和優化中。它能夠有效地減少擬合誤差，并通過少量的系數實現對復雜曲面的高精度描述，有助于提升光學系統的成像質量和簡化性能分析。本文首先對自由曲面描述方法進行了概括，包括全局描述與局部描述兩種方式；隨后討論了國內外關于Zernike多項式在曲面表征中的研究進展，探討了Zernike多項式在曲面表征中的實際應用；最... （共13頁）