APP 1.非增強檢查非增強檢查又稱普通掃描或平掃。(1)橫斷面掃描:顱腦CT檢查多用橫斷面掃描,掃描基線多為聽眥線或稱眶耳線(簡稱OML),即由外眥至外耳道的連線,依次向上以層厚1.0cm掃描至顱頂,必要時行0.1～0.5cm的薄層掃描。(2)冠狀面掃 （共 871 字） [閱讀本文] >>
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