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 通過絕緣體(dielectricum)SiO2的開口(opening),外延橫向過度生長技術可以實現Si的擇優外延生長,如圖1.14(b)所示。通過熱氧化(thermaloxidation),得到的絕緣體SiO2具有掩蔽層(maskinglayer)的作用?;瘜W氣相沉積CVD的擇優特性來自于控制Si蝕刻和Cl氣 (共 840 字) [閱讀本文] >>
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